物理所中文主页
 
相关链接
技术部首页
微加工实验室
电子学仪器部
分析测试部
机械加工厂
低温条件保障中心
中国科学院物理研究所 » 技术部 » 电子学仪器部 » 技术服务项目
技术服务项目
技术服务项目

新技术发布

  我部最新研制成功双通道及单通道“ 材料动态电阻随温度变化(R-T)计算机自动测量系统”。此技术可广泛应用于各种不同类型的物理参数的测量,可实时绘制R—T,V-I采样曲线,有兴趣的同志可与技术部电子学仪器部联系。

该系统大致结构及功能如下:
1.双通道测量R—T,V-I
系统要求:有源多功能表2400一台。
我组研制的十二通道四元信息切换测试系统一套。
有源多功能表2400、样品一、样品二、测温Pt,经DB25PIN插头接到我组研制的十二通道四元信息切换测试系统上,此系统通过USB接口与计算机相联。
系统功能:
(1)使用同一台2400在测量过程中,在信息切换测试系统的控制操作下,随着温度T变化,即测得样品一、样品二的材料电阻R,又测得其对应的温度T数据组,根据计算机设定,并在屏幕上实时画出样品一、样品二两条R—T曲线。
(2)样品在某一温度下的V-I曲线
2.单通道测量R—T,V-I
系统要求:有源多功能表2400一台。
我组研制的八通道四元信息切换测试系统一套。
有源多功能表2400、样品、测温Pt,经DB15PIN插头接到我组研制的八通道四元信息切换测试系统上,此系统通过RS232接口与计算机相联。
系统功能:
(1)在测量过程中,在信息切换测试系统的控制操作下,随着温度T变化, 使用同一台2400即测得材料电阻的R随温度的变化值,又测得其对应的温度T数据组,根据计算机设定,在屏幕上实时画出样品R—T曲线。
(2)样品在某一温度下的V-I曲线
R-T使用说明书

Copyright (C) 2020 中国科学院物理研究所技术部
网页维护: