新技术发布

  我部最新研制成功双通道及单通道“ 材料动态电阻随温度变化（R-T）计算机自动测量系统”。此技术可广泛应用于各种不同类型的物理参数的测量，可实时绘制R—T，V-I采样曲线，有兴趣的同志可与技术部电子学仪器部联系。

该系统大致结构及功能如下：
1．双通道测量R—T，V-I
系统要求：有源多功能表2400一台。
我组研制的十二通道四元信息切换测试系统一套。
有源多功能表2400、样品一、样品二、测温Pt，经DB25PIN插头接到我组研制的十二通道四元信息切换测试系统上，此系统通过USB接口与计算机相联。
系统功能：
（1）使用同一台2400在测量过程中,在信息切换测试系统的控制操作下，随着温度T变化,即测得样品一、样品二的材料电阻R，又测得其对应的温度T数据组,根据计算机设定，并在屏幕上实时画出样品一、样品二两条R—T曲线。
（2）样品在某一温度下的V-I曲线
2．单通道测量R—T，V-I
系统要求：有源多功能表2400一台。
我组研制的八通道四元信息切换测试系统一套。
有源多功能表2400、样品、测温Pt，经DB15PIN插头接到我组研制的八通道四元信息切换测试系统上，此系统通过RS232接口与计算机相联。
系统功能：
（1）在测量过程中,在信息切换测试系统的控制操作下，随着温度T变化, 使用同一台2400即测得材料电阻的R随温度的变化值，又测得其对应的温度T数据组,根据计算机设定，在屏幕上实时画出样品R—T曲线。
（2）样品在某一温度下的V-I曲线
R-T使用说明书