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分析测试部简介

       中国科学院物理研究所技术部分析测试部成立于2002年,是由振动光谱组(简称拉曼组)和化学分析组(简称化分组)合并而成,是物理所技术支撑体系不可或缺的组成部分。拉曼组建于1982年,主要是利用拉曼散射来表征材料的成分、结构及其基本的物理性质。化分组自1956年组建以来,一直致力于物质的成分分析,能准确分析元素周期表中70多个化学元素含量,范围从常量至超痕量(µg/g)。分析测试部装备有世界上性能先进的高分辨共聚焦显微拉曼光谱仪(HR-Evolution)、快速成像共聚焦显微拉曼光谱仪(WITec-300R)和研制的极端条件(低温4.2K,强磁场9T)显微拉曼测试系统,电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)和碳氢/氧氮元素分析仪器等以及X射线单晶衍射仪(室温和低温)。分析测试部的宗旨是为物理所各课题组提供快捷、准确的分析测试服务,同时也接收所外单位来样测试。

分析测试部2016年6月引进了一台德国产的X射线单晶衍射仪,可用于:

  1. 测定无机、有机、金属有机配合物、蛋白质单晶体等的晶胞参数、晶型、空间群、晶胞中原子的三维分布(原子坐标)、键长、键角、构象、氢键等结构信息;
  2. 单晶体的低温结构分析、低温结构相变研究。
拉曼光谱组2016年引进了一台法国产的高分辨共聚焦显微拉曼光谱仪,可用于:
  1. 测量材料的拉曼光谱和荧光光谱,确定材料的晶格结构和电子能级结构,
  2. 二维拉曼成像测试,分析样品中结构的微观不均匀性和应力分布;
  3. 样品的低温结构分析、变温结构相变研究。

一台德国产的快速成像共聚焦显微拉曼光谱仪,可用于:

  1. 测量材料的拉曼光谱和荧光光谱,确定材料的晶格结构和电子能级结构,
  2. 二维拉曼成像测试,分析样品中结构的微观不均匀性和应力分布。

 

 

       中国科学院物理研究所技术部分析测试部成立于2002年,是由振动光谱组(简称拉曼组)和化学分析组(简称化分组)合并而成,是物理所技术支撑体系不可或缺的组成部分。拉曼组建于1982年,主要是利用拉曼散射来表征材料的成分、结构及其基本的物理性质。化分组自1956年组建以来,一直致力于物质的成分分析,能准确分析元素周期表中70多个化学元素含量,范围从常量至超痕量(µg/g)。分析测试部装备有世界上性能先进的高分辨共聚焦显微拉曼光谱仪(HR-Evolution)、快速成像共聚焦显微拉曼光谱仪(WITec-300R)和研制的极端条件(低温4.2K,强磁场9T)显微拉曼测试系统,电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)和碳氢/氧氮元素分析仪器等以及X射线单晶衍射仪(室温和低温)。分析测试部的宗旨是为物理所各课题组提供快捷、准确的分析测试服务,同时也接收所外单位来样测试。

分析测试部2016年6月引进了一台德国产的X射线单晶衍射仪,可用于:

  1. 测定无机、有机、金属有机配合物、蛋白质单晶体等的晶胞参数、晶型、空间群、晶胞中原子的三维分布(原子坐标)、键长、键角、构象、氢键等结构信息;
  2. 单晶体的低温结构分析、低温结构相变研究。
拉曼光谱组2016年引进了一台法国产的高分辨共聚焦显微拉曼光谱仪,可用于:
  1. 测量材料的拉曼光谱和荧光光谱,确定材料的晶格结构和电子能级结构,
  2. 二维拉曼成像测试,分析样品中结构的微观不均匀性和应力分布;
  3. 样品的低温结构分析、变温结构相变研究。

一台德国产的快速成像共聚焦显微拉曼光谱仪,可用于:

  1. 测量材料的拉曼光谱和荧光光谱,确定材料的晶格结构和电子能级结构,
  2. 二维拉曼成像测试,分析样品中结构的微观不均匀性和应力分布。

 

 

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